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                                          納米粒度及Zeta電位分析儀

                                          描述:Zetatronix 系列納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結構發生變化,從而在電學、光學和化學活性等方面表現出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數,準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關鍵參數,Zeta電位越高,膠體系統就越穩定,反之,Zeta電位越

                                          更新日期:2024-01-19
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                                          廠商性質:生產廠家
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                                          詳情介紹
                                          品牌其他品牌價格區間面議
                                          產地類別國產應用領域綜合

                                            納米粒度及Zeta電位分析儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位。納米顆粒由于粒徑十分細小,其表面的晶體結構發生變化,從而在電學、光學和化學活性等方面表現出的性能。粒徑大小是表征納米材料性能的重要參數,準確了解顆粒粒度是控制納米材料性能的關鍵。Zeta電位是表征膠體分散系穩定性的關鍵參數,Zeta電位越高,膠體系統就越穩定,反之,Zeta電位越低,膠體系統穩定性就越差,因此通過測量和調整體系的Zeta電位,就可以控制膠體的穩定性。因此,廣泛應用于產品開發、生產、質量控制以及科學研究,以便深入了解產品特性。

                                           技術類型

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                                          Zetatronix?939系列 查看詳情

                                          采用多角度動態光散射技術,提供更高分辨率的粒度測量結果

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                                          Zetatronix?929系列 查看詳情
                                          采用背向動態光散射技術,可以測量高濃度樣品的粒度

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                                          Zetatronix?919系列 查看詳情
                                          采用經典動態光散射技術測量粒度
                                          經典動態光散射(DLS)
                                          背向動態光散射(BSDLS)
                                          多角度動態光散射(MADLS)

                                          測量角度11°、90°、175°11°、175°11°、90°
                                          測量類型


                                          粒度
                                          Zeta電位
                                          分子量
                                          溫度/時間趨勢


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